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通过对数字下变频器HSP50216内部结构、工作原理及性能特点的介绍，给出了其在下变频处理中的应用。另外，该芯片配有一个测试模式，它通常用来进行芯片检测。给出了利用测试模式来使HSP50216完成数字化激励器中基带处理功能的另外一种应用。实践证明这种方法是可行的，提高了对测试模式使用的灵活性，并以此扩展了HSP50216的功能，满足更多情况的需要。