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采用密度泛函理论（DFT）的B3P86方法，在6—311G＊＊基组水平上，优化出CH3自由基的稳定构型为双重态D3h构型，并得出基态的简正振动频率、转动常数．在此基础上，根据对称陀螺分子红外光谱跃迁定则，计算了谱线跃迁频率．使用以上数据，我们研究了不同温度下CH3自由基地平行谱带谱线强度，并分析了谱线强度随温度的变化规律．结果表明直到1600K时，谱线强度计算值和实验结果符合很好．表明对CH3自由基在高温下谱线强度的计算方法是成功的．进而计算了CH3自由基在2000和3000K时v2谱带谱线强度及模拟光谱