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研究应用X射线荧光光谱法测定铁矿石中TFe、P、SiO2、Al2O3、CaO、V2O5、TiO2、MgO、TMn。通过选择合适的制样条件,确定仪器最佳参数,最后建立工作鼎线。经过实验证明,本法快速、准确,能很好地对铁矿石进行测定,不仅大大缩短了分析时间、提高了工作效率,而且降低了劳动强度。