改善硅外延片电阻率和厚度一致性分析

来源 :集成电路应用 | 被引量 : 0次 | 上传用户:RHLOK007
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阐述硅外延片在电阻率和厚度一致性的问题,改善其一致性外延片的制备方法,包括装入衬底片、衬底气相抛光、变流量吹扫、本征生长、外延生长的工艺流程和工艺参数.
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