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针时织物场景模拟中出现的纹理走样现象．分析在纹理映射过程中纹理走样产生的原因，提出解决纹理走样的办法。主要探讨了MIP—MAP技术在屏幕像素绘制过程中对纹理走样的抑制潜力，对算法实现进行研究。并在“纺织产品场景模拟系统”中得到实现。通过与Blinn方法得到得模拟效果进行对比，可以得出MIP—MAP技术能取得理想的纹理映射效果，有效解决走样问题，且不增加计算量。