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研究了存在于聚合物发光二极管(PLED)中的一种可逆的"负阻"现象及短期衰退行为.当加在PLED上的正向偏压大于10V之后,其电流和发光强度将在某偏压下出现突然的转折,即电流或光强骤增而器件上压降减小."负阻"现象将随测量次数的增加而逐渐消失.采用CCD摄像头摄取发光象素上发光的变化情况的图像,发现光强的突变与电流的突变是相对应的.对以不同极性脉冲偏置观察发光光强的短期衰退情况时发现,反向偏置有助于抑制正向的发光衰退行为.我们初步认为这些现象可能与PLED中存在的缺陷态及其上电荷的填充状况有关.