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基于模拟退火算法给出了一种可用于MCM互连基板单探针测试的二次优化方法，即采用模拟退火算法对启发式算法获得的MCM互连基板单探针测试路径进行二次优化改进.模拟结果显示，所提方法与已有的启发式优化算法相比较，对单探针路径的优化最高可达90.2%，可以有效地降低多芯片组件互连基板单探针测试的成本.
多芯片组件基板单探针测试路径的二次优化
【摘 要】
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基于模拟退火算法给出了一种可用于MCM互连基板单探针测试的二次优化方法，即采用模拟退火算法对启发式算法获得的MCM互连基板单探针测试路径进行二次优化改进.模拟结果显示，所
【机 构】
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西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,中国电子科技集团预研部
【出 处】
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半导体学报
【发表日期】
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2007年10期
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