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以一种CMOS模拟开关电路的失效分析为案例，叙述了CMOS模拟开关电路失效分析过程。通过对失效电路的测试分析，查找出失效电路的故障点，再经EMMI试验验证测试分析的正确性。建立一种以“测试分析”为手段的模式。通过对故障点的分析判断及CMOS模拟开关电路制造工艺流程的梳理，对失效现象进行失效机理的研究，最终确定失效原因。