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粒子激发的X射线分析(PIXE)和卢瑟福背散射法(RBS)可以用来作作品全元素(Z>11)的定量分析.由于这个方法简便、非破坏性及需要的样品量极少,因此得到分析界的普遍重视.如果将粒子束聚焦,且装上扫描设备和计算机数据获取系统,可以得到样品中元素丰度分布的扫描图.这个核探针曾用于检验一块钢样的裂缝,以分析裂缝形成的可能原因.也曾用于观测东汉年代制造的铜镜的截面上的元素的分布.