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[期刊论文] 作者：罗应明,李望,展振宗,
来源：微细加工技术 年份：1986
大量研究工作表明,N~+注入能强化金属表面。其强化作用机理可归纳为下述两种主要看法(此外尚有注入损伤效应使金属表面非晶化,微观表面凹凸度的均一化等等):(1)注入的N~+原...
[期刊论文] 作者：李望,展振宗,付志英,
来源：真空科学与技术 年份：1986
利用PHI—550型多功能电子谱仪分析了银基镀金继电器簧片样品,发现银透过镀层于表面富集。这种富集引起样品变色,使器件性能变坏。对银富集的原因及过程做了讨论。Using P...
[期刊论文] 作者：刘友婴,李望,展振宗,
来源：真空科学与技术 年份：1994
根据An－Ag系统以及An－Cu系统的扩散系数计算，提出了扩散阻挡层模型。利用这个模型对Au－Ag系统进行有关实验，得利了较好的验证。...
[期刊论文] 作者：刘友婴,李望,展振宗,陈国平,
来源：真空科学与技术 年份：1993
在银基底上蒸镀80nm的金薄膜,然后用不同温度和时间间隔对这些样品进行热处理。再用PHI 550型俄歇电子能谱仪测出上述样品金膜中银的浓度剖面分布。根据银的浓度剖面分布及Ha...
[期刊论文] 作者：刘友婴,曹家桂,李望,展振宗,,
来源：真空科学与技术 年份：1984
我们用低能氩离子(2keV)对于没有经过热处理的氧化物阴极基金属Ni-W-Mg合金以及含镁量较高的Ni-Mg合金进行了剥层,并用PHI 550俄歇电子能谱仪对经过不同剥层时间间隔的样品表...
[期刊论文] 作者：李望,展振宗,袁保玲,汪美玲,李久安,
来源：电镀与精饰 年份：1989
基底元素透过镀层于表面富集可使镀层失去作用和意义,造成元器件失效。常温下这种富集主要是基底元素通过缺陷和晶界扩散穿透镀层再行表面扩散而遍及表面的。镀件的表面吸附...
[期刊论文] 作者：齐芸馨,唐文泰,夏建国,李望,展振宗,
来源：金属学报 年份：1990
本文采用SAM和XPS对实用Au-Ni-Kovar合金系统热处理样品(250—350℃,0.5—1.5h)进行了基底元素穿透Au层的表面偏聚研究,给出了这一复杂系统中Ni,Co表面偏聚机理的直观证据,即...
[期刊论文] 作者：刘友婴,李望,展振宗,魏保安,刘宝英,
来源：真空科学与技术 年份：1990
本文利用俄歇电子能谱(PHI-550)测得了经过不同时间间隔热处理的Au-Cu系统中铜在金薄膜内的浓度剖面。根据铜的浓度斟面及Hall公式,我们使用了两种方法——“中心梯度法”及...
[期刊论文] 作者：李望,展振宗,马玉芳,张宗健,宋松,
来源：真空科学与技术 年份：1986
利用PHI-550型多功能电子谱仪研究了Cu-Be合金活化后的CuBe(O)样品。结果表明:(1)Cu-Be合金活化后,表面生成较为纯净的BeO层。氧化使得ESCA Be 1 S峰由111.6eV(电子结合能)移...
[期刊论文] 作者：李望,展振宗,赵杰,鲁光源,苏雅文,罗应明,,
来源：真空科学与技术 年份：1984
对N_2~+离子注入的GCr15轴承钢样品进行了俄歇分析。样品分为两类:氮注入的GCr15钢和GCr15钢镀Cr后用氮轰击。两者的注入条件相同,能量为100KeV,剂量为3×10~(17)N_2~+/厘米~...
[期刊论文] 作者：李望,展振宗,苏雅文,鲁光源,赵杰,罗应明,
来源：真空科学与技术 年份：1986
利用PHI—550型多功能电子谱仪对GCr15钢镀Ti、Cr后用N~+及Ar~+和N~+轰击过的样品进行了AES、AES—PRO(俄歇部面)及ESCA分析研究。结果表明:(1)GCr15钢镀Ti、Cr后,用N~+轰击,...
[期刊论文] 作者：鲁光源,苏雅文,叶维祎,刘福润,李望,展振宗,
来源：真空科学与技术 年份：1988
本文依据LSS理论并考虑到反冲注入的特点,对反冲注入中入射离子的能量和镀层厚度提出如下选择原则: 1.入射离子的能量应对应于(dε/dρ)。～ε~1/~2普适曲线的极大值。2.镀层厚...
[期刊论文] 作者：程玉珍, 展振宗, 韩瑞安, 李望, 张之铮, 姚荣津, 刘,
来源：电镀与精饰 年份：1992
对使用直流及换向脉冲电源镀得的18K及22K金镀层进行了扫描电镜及俄歇电子能谱分析。结果表明:(1)用两种电源制得的镀层的表面形貌有很大差别,前者平坦,无明显结晶颗粒,后者...
[期刊论文] 作者：李望,展振宗,景晶,齐芸馨,王改莲,唐文泰,汪美玲,袁保玲,,
来源：真空科学与技术学报 年份：1990
基底元素透过镀层于表面富集可使镀层失去作用和意义,导致元、器件失效。对银上镀金样品的SAM法研究结果表明,常温下这种富集主要是基底元素通过缺陷和晶界扩散穿透镀层再行...
[期刊论文] 作者：李望,展振宗,景晶,齐芸馨,王改莲,唐文泰,汪美玲,袁保玲,李久安,
来源：真空科学与技术 年份：1990
基底元素透过镀层于表面富集可使镀层失去作用和意义,导致元、器件失效。对银上镀金样品的SAM法研究结果表明,常温下这种富集主要是基底元素通过缺陷和晶界扩散穿透镀层再行...
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