搜索筛选:
搜索耗时2.6807秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 29 篇相符的论文内容
类      型:
[学位论文] 作者:曾慧中,, 来源: 年份:2014
黄金稀少而珍贵,且具有优良的物理性质和化学性质,被广泛应用于社会生产、生活中。在布雷顿森林体系崩溃以前,黄金都被人们视为货币的等价物。虽然现在退出了流通领域,仍然被...
[学位论文] 作者:曾慧中,, 来源:电子科技大学 年份:2010
界面是功能氧化物/半导体异质薄膜研究的重要内容。功能氧化物/半导体薄膜既具有以半导体载流子的场效应与输运性质,又具有氧化物材料丰富的功能效应,如超导、铁磁、铁电、压...
[学位论文] 作者:曾慧中, 来源: 年份:2005
本论文采用压电响应扫描力显微镜(Piezoresponse-SFM,PFM)研究纳米尺度下铁电薄膜和纳米岛的电畴结构及其运动规律。研究内容包括PFM 实验仪器的优化、纳米电畴结构的重现和电畴运动过程的实时原位观测。从研究手段上,实现了电畴观测的5nm 分辨率并发展了电畴运......
[期刊论文] 作者:王放,曾慧中,张万里, 来源:电子元件与材料 年份:2018
SrTiO3的电学性质严重依赖于氧空位浓度。采用Ar+轰击SrTiO3能使其表面产生氧空位。本文提出了一种基于蒙特卡罗模拟辅助控制离子注入时间的方法,利用SRIM程序模拟Ar+注入SrT...
[期刊论文] 作者:戴林杉,包生祥,曾慧中, 来源:材料研究学报 年份:2004
应用扫描力显微镜(SFM)的压电响应模式观测未经抛光处理的PZT陶瓷片的电畴结构,用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得PZT陶瓷材料三维电畴结构.结果表明,将样品晶粒的微...
[会议论文] 作者:曾慧中,雷瑶,罗文博,张万里, 来源:第195场中国工程科技论坛——中国科学仪器设备与试验技术发展高峰论坛、第四届中国能力验证与标准样品论坛暨2014国际冶金 年份:2014
[期刊论文] 作者:马丽丽, 包生祥, 戴林杉, 曾慧中,, 来源:电子显微学报 年份:2005
电介质瓷料流延膜的制作是生产多层陶瓷电容器(MLC)的关键工序,流延膜的平整度,致密性,表面形貌等是影响MLC的性能和可靠性的关键因素之一.原子力显微镜(AFM)可不经导电处理...
[期刊论文] 作者:黄惠东,王志红,左长明,曾慧中, 来源:电子显微学报 年份:2006
扫描非线性介电显微镜(SNDM)利用非线性介电效应检测电容的变化情况,分辨率达到亚纳米量级,精度达到10^-22F,主要应用于材料微区的电性能研究,目前以这项技术进行的研究主要集...
[期刊论文] 作者:何鹏,幸代鹏,周瑶,何月,曾慧中, 来源:电子元件与材料 年份:2018
持续光电导现象在光电器件中有着潜在的应用。采用亚禁带光激发手段研究了SrTiO3表面的持续光电导效应。Ar+轰击后的SrTiO3单晶可以形成具有光电效应的表面导电层。在温度80...
[期刊论文] 作者:鞠量,彭斌,黄和,曾慧中,张万里, 来源:测试技术学报 年份:2019
根据近场微波测试原理搭建了一套近场扫描微波显微镜系统,在不同针尖-样品距离情况下,测试了宽度分别为260μm和470μm的NiFe薄膜在宽度方向的轮廓,研究结果表明,随着针尖-样...
[期刊论文] 作者:黄和,彭斌,曾慧中,鞠量,张万里,, 来源:测试技术学报 年份:2020
近场微波显微镜测试样品介电常数依赖于针尖与样品的距离,准确控制针尖与样品距离是准确测试介电常数的基础.基于谐振腔谐振频率随针尖-样品距离接近曲线的探究,本文提出了一种准确实现探针与样品软接触的方法,采用软接触模式测量了一系列已知介电常数样品的谐......
[期刊论文] 作者:沈博侃,王志红,钟智勇,曾慧中,, 来源:电子显微学报 年份:2006
本文利用磁力显微镜(MFM)主要研究了由磁控溅射法制备的Co60Fe20B20软磁薄膜的厚度变化(2.5nm-400nm)对薄膜磁畴结构的影响。在室温下观察到垂直各向异性随薄膜厚度的增大而增大。......
[期刊论文] 作者:孙浩明,王志红,曾慧中,古曦, 来源:电子测量技术 年份:2009
本文基于扫描探针显微镜(SPM)建立了微区电容的低频测量系统,最小测量电容为30aF,工作频率为20~100kHz。试验测量了SPM导电针尖与金属样品之间的电容Ctip与它们之间的距离z关系...
[期刊论文] 作者:黄惠东,王志红,左长明,曾慧中,, 来源:电子显微学报 年份:2006
扫描非线性介电显微镜(SNDM)利用非线性介电效应检测电容的变化情况,分辨率达到亚纳米量级,精度达到10-22F,主要应用于材料微区的电性能研究,目前以这项技术进行的研究主要集...
[期刊论文] 作者:周瑶, 何鹏, 幸代鹏, 曾慧中, 张万里,, 来源:电子元件与材料 年份:2018
利用脉冲激光沉积技术在Sr Ti O3表面导电层上方制备非晶Hf O2栅介质薄膜,通过磁控溅射技术在非晶Hf O2栅介质薄膜上方制备直径为100μm的圆形Pt电极,研究了变温条件下Pt/Hf...
[期刊论文] 作者:杨潇,肖化宇,唐义强,曾慧中,张万里, 来源:电子元件与材料 年份:2020
基于等离子轰击和射频磁控溅射技术,制备了HfO2/SrTiO3结构的全氧化物场效应晶体管(FET),并研究了其栅极漏电性质。该全氧化物晶体管的制备工艺均在室温条件下完成,包括Ar+轰...
[期刊论文] 作者:肖化宇, 杨潇, 唐义强, 曾慧中, 张万里, 来源:电子测量技术 年份:2020
研究了深能级瞬态谱(DLTS)测量HfO2/SrTiO3(STO)场效应晶体管中缺陷的方法。该场效应晶体管的沟道为Ar+轰击SrTiO3表面形成的导电层,导电层表现为n型掺杂,其载流子浓度约为2.5×1013 cm-2;栅介质为通过磁控溅射的方法制备的非晶氧化铪。实验结果和模拟计算均表明SrT......
[会议论文] 作者:Haoming Sun,Zhihong Wang,Huizhong Zeng,孙浩明,王志红,曾慧中, 来源:电子科技大学电子科学技术研究院第四届学术会议 年份:2008
  本文基于扫描探针显微镜(SPM)建立了微区电容的低频测量系统,最小测量电容为30aF,工作频率为20~100kHz.试验测量了SPM导电针尖与金属样品之间的电容Ctip与它们之间的距离z...
[会议论文] 作者:Haoming Sun,孙浩明,Zhihong Wang,王志红,Huizhong Zeng,曾慧中, 来源:电子科技大学 年份:2008
本文基于扫描探针显微镜(SPM)建立了微区电容的低频测量系统,最小测量电容为30aF,工作频率为20~100kHz.试验测量了SPM导电针尖与金属样品之间的电容Ctip与它们之间的距离z关系曲线,并同时通过光学系统测量了针尖的关于频率的一次受力信号Fw与z的关系曲线.我们推......
[期刊论文] 作者:包生祥,王志红,李红霞,曾慧中,戴林杉,陈琨, 来源:现代科学仪器 年份:2003
报道了扫描探针显微镜在纳米电子薄膜材料的形貌、晶界、晶粒形状与尺度、表面粗糙度和剖面分析中的具体应用实例 ,以及纳米磁性薄膜中的微磁畴、铁电材料的微电畴和半导体PN...
相关搜索: