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[期刊论文] 作者：杨恒青,,
来源：西安矿业学院学报 年份：1993
对某矿井下运输监控系统的研究、设计和使用,总结了我国中小型煤矿单轨双向运输方式“信集闭”系统的特点和实施方案。对使用可编程序控制器的方案进行了分析。...
[期刊论文] 作者：杨恒青,
来源：煤炭高等教育 年份：1994
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[期刊论文] 作者：鲍梁,杨恒青,
来源：西安矿业学院学报 年份：1995
从脉动和运行性能方面分析了体外心肺复苏器拖动系统半波供电的直流激磁电路的优缺点，指出应改为全波整流供电的必要性。...
[期刊论文] 作者：杨恒青,张敏如,
来源：真空科学与技术 年份：1998
ＳＩＭＳ对二氧化硅中钠离子有相当高的检测灵敏度，但其定量分析较为困难。在二氧化硅的ＳＩＭＳ图谱中，由一二氧化硅中的Ｎａ离子的计数和与“ＳｉＯ２”计数和之比正比于二氧化硅中的Ｎａ离子的平均体密度，因此......
[期刊论文] 作者：周正刚,杨恒青,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2003
晶体管发射结电容对晶体管的频率特性有很重要的影响,正确测量发射结正向偏压电容仍是很重要的课题.文中提出用交流测量和直流测量结合来测量晶体管发射结的正向偏压电容,分...
[期刊论文] 作者：方志烈,杨恒青,
来源：半导体光电 年份：1981
采用光电压光谱法测定InGaAsP/InP单异质结和双异质结外延材料的禁带宽度,为此材料和器件的研制提供了一种简便而有效的测试方法。The bandgap of InGaAsP / InP single he...
[期刊论文] 作者：方志烈,杨恒青,
来源：红外研究 年份：1982
光电压光谱法基于半导体材料的光生伏特效应。当单色光照射到半导体样品的表面或界面势垒区时,如果光子能量hv大于材料的禁带宽度E_g,光子就能激发出电子一空穴对;在势垒区...
[期刊论文] 作者：杨恒青,康少华,
来源：煤炭科学技术 年份：1994
结合煤矿井下轨通运输监测系统的研究，总结了单轨双向行车监控系统的设计原则，对微型计算机监控方案的结构，主站，分站，通讯和有关程序进行了分析。...
[期刊论文] 作者：杨恒青,王忠平,
来源：情报科研学报 年份：1989
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[期刊论文] 作者：杨恒青,陈俭,等,
来源：半导体学报 年份：2003
利用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量了硅中注入硼的深度分布。在适当的测量深度，用扩展电阻探针技术测量 得的结果对二次离子质谱技术测量的结果进行了标定，从而得到硅片......
[期刊论文] 作者：杨恒青,宋毅锋,,
来源：复旦学报(自然科学版) 年份：2008
在制造半导体器件的外延工艺中,外延生长时通常要掺入杂质.如果杂质的扩散系数很小,杂质在外延层中的深度分布是均匀的;如果杂质的扩散系数较大,半导体在外延生长过程中,杂质...
[期刊论文] 作者：康少华,龚银河,杨恒青,
来源：西安矿业学院学报 年份：1995
针对中小型煤矿井下轨道运输的实际情况，对分布式计算机控制信集闭系统的远地智能分站的功能、总体结构、软硬件实现及抗干扰能力进行了研究、设计。该分站具有结构简单、抗干......
[期刊论文] 作者：包宗明, 杨恒青, 黄淑蓉,,
来源：太阳能学报 年份：1981
表面光电压法可以非破坏性检测抛光片、外延片的扩散长度(从而可以推算出少子寿命),能测量扩散长度在晶片表面各点的分布,而且可以对太阳电池基体扩散长度进行随工艺检测及成...
[期刊论文] 作者：王占春,杨恒青,滕维信,
来源：山东教育科研 年份：1997
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[期刊论文] 作者：杨恒青,张焕林,顾春林,
来源：固体电子学研究与进展 年份：1992
本文改进了常规表面光电压测试少子扩散长度法,采用环形下电极消除了薄样品背面光电压信号对测量结果的影响;应用阻尼最小二乘法数据处理原理对实验数据进行“曲线拟合”,求...
[期刊论文] 作者：杨恒青,王志伟,包宗明,
来源：应用科学学报 年份：1987
本文提出了用N/P硅外延片的结光电压光谱响应确定N/P硅外延片中少子扩散长度的方法.导出了入射光强1和结光电压V、光吸收系数a的理论关系,其中包含了外延层和衬底少子扩散长...
[会议论文] 作者：杨恒青,顾春林,张焕林,
来源：中国电工技术学会电力电子学会第四次全国学术会议 年份：1990
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[期刊论文] 作者：杨恒青,颜佳骅,陈俭,曹永明,
来源：半导体学报 年份：2003
利用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量了硅中注入硼的深度分布 .在适当的测量深度 ,用扩展电阻探针技术测得的结果对二次离子质谱技术测量的结果进行了标定 ,从而得到硅片...
[期刊论文] 作者：包宗明,张秀淼,杨恒青,张增光,
来源：半导体学报 年份：1983
本文研究了电子辐照和退火对Al-SiO_2-Si(n)系统的影响.结果表明,经电子辐照加适当退火处理的样品与未经辐照的样品相比,体内非平衡少数载流子复合寿命明显降低,但表层产生寿...
[期刊论文] 作者：杨恒青,姜国庆,陈玉金,包宗明,
来源：半导体学报 年份：1984
本文定量分析了样品厚度d及单色光的透入深度α~(-1)对表面光电压法测试少于扩散长度的影响,并从实验上进行了验证.本文还讨论了样品厚度对两点法直读少子扩散长度测试结果的...
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