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[会议论文] 作者:费自豪, 来源:中国工程建设标准化协会(电气)终端电器及过电压保护2007年学术年会 年份:2007
随着防雷行业的深入发展,对SPD的安全问题越来越重视,近几年出台的几个相关标准如YD/T1235.1-2002、IEC61643-1:1998、IEC61643.1:2005均对SPD的热稳定性作了相应的规定和论...
[期刊论文] 作者:杨光棣,费自豪, 来源:中国锰业 年份:1992
母排与阳极、阴极采用插口式导电新设计,可使接触电压降低到2—5mV,使槽电压降低0.2V,电解金属锰的电耗下降200度/t。电解槽的设计更趋合理。节约过渡铜排,减少大量清擦导电...
[期刊论文] 作者:费自豪,王志宏, 来源:材料科学与工艺 年份:1998
用化学法掺杂合成的粉料制成压敏电阻并作了电性能检测,发现其有高的电位梯度(290 ̄500V/mm);在进行8/20μs模拟雷电冲击时发现其单位体积可承受较大的冲击能量,并有较小的V1m4变化率;用电子探针观测了其......
[期刊论文] 作者:费自豪,王志宏, 来源:电瓷避雷器 年份:1998
用电子探针对比观测了采用化学共沉淀法制粉和机械混合法制粉的压敏电阻的微观结构;得出化学合成制粉工艺使压敏电阻U1mA/mm升高的原因是由于粉料组分的均匀分布使得其晶界组分的浓度......
[期刊论文] 作者:费自豪,吴光劲, 来源:电瓷避雷器 年份:1997
给出了化学共沉淀法制备ZnO压敏电阻粉料的原则工艺流程;对用化学法粉料制作的压敏电阻作了初步电性能检测,在进行8/20μs雷电冲击时发现其单位体积可随较大的冲击能量,并具有小的U1mA变化率......
[会议论文] 作者:庞驰,费自豪,杨林, 来源:中国电子学会敏感技术分会第十四届电压敏学术年会 年份:2007
  本文对工频过电压耐受特性和8/20μs通流能力的相互影响进行了试验。测试结果表明:工频过电压老化后会使压敏电阻的通流能力下降,但经过8/20μs峰值电流20kA冲击后,压敏电阻...
[会议论文] 作者:费自豪,王志宏, 来源:中国电子学会敏感技术分会电压敏专业第十届学术年会 年份:2003
分别比较了不同工艺和配方对热处理效果的影响,确定最佳热处理温度应在600~800℃之间,整个过程应在15~20h左右完成;升温速度对热处理影响较小,保温时间应适当,热处理温度与保...
[期刊论文] 作者:庞驰,费自豪,杨林, 来源:中国电子学会敏感技术分会第十四届电压敏学术年会 年份:2007
本文对不同电压梯度对MoV最大热稳定电压的影响进行了试验。测试结果表明:配方体系MOV在电压梯度为160V/mm~170V/mm时的热稳定电压最高;170V/mm梯度的样品加载最大热稳定电压0.79UlmA作用约15min,其表面温度升到最高且能够稳定,当加载电压为0.80UlmA时,MOV的表面温......
[会议论文] 作者:庞驰,费自豪,张雷, 来源:中国电子学会敏感技术分会第十五届电压敏学术年会 年份:2008
  本文采用传统的陶瓷工艺,对比研究了不同Y2O3含量对ZnO压敏电阻器的性能的影响。结果表明:掺杂Y2O3能够细化晶粒、提高ZnO压敏电阻器的电压梯度,当掺杂量为0.8Wt.%时,电位...
[会议论文] 作者:庞驰,费自豪,张雷, 来源:中国电子学会敏感技术分会第十六届电压敏学术年会 年份:2009
  本文使用传统的陶瓷工艺。研究了侧面高阻釉对压敏防雷芯片电性能的影响。结果表明:高阻釉使芯片的均匀性得以提高、缺陷减少;提高样品的8/20ps通流能力;在1000mA工频电流作......
[会议论文] 作者:费自豪,庞驰,张雷, 来源:中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第十八届学术年会 年份:2011
  压敏电阻(MOV)遇到较高的故障过电压后,MOV熔穿不可避免,避免SPD起火燃烧的关键在于保证击穿喷火的热量能快速传导至热脱扣焊点熔化熔点合金,使热脱扣动作脱离。文章分析了M......
[期刊论文] 作者:龙香楷,费自豪,庞驰, 来源:陶瓷 年份:2010
采用传统的陶瓷工艺,对比研究了不同Y2O3含量对ZnO压敏电阻器的性能的影响。结果表明:掺杂Y2O3能够细化晶粒、提高ZnO压敏电阻器的电压梯度.当掺杂量为0.8%时,电位梯度达270V/mm。但......
[期刊论文] 作者:庞驰,叶萃,费自豪,张雷, 来源:电子元件与材料 年份:2011
为了研究ZnO压敏防雷芯片的工频过电压耐受特性和8/20μs通流能力的相关性,在生产线上抽取同批次产品进行工频过电压耐受试验和8/20μs通流能力试验。研究结果表明:工频过电压...
[期刊论文] 作者:庞驰,叶翠,费自豪,张雷,, 来源:电子元件与材料 年份:2013
为了抑制压敏防雷芯片边缘低熔点元素在烧结过程中的挥发,在芯片侧面涂覆不同配方高阻釉,研究其对压敏防雷芯片电性能的影响。结果表明:涂覆了高阻釉的芯片组分均匀性得以提...
[期刊论文] 作者:庞驰,叶萃,费自豪,张雷,, 来源:城市道桥与防洪 年份:2013
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生、测量监控等方面人手,介绍了S226海滨大桥...
[会议论文] 作者:张雷,施斌,费自豪,庞驰, 来源:中国电子学会敏感技术分会电压敏学部第二十一届学术年会 年份:2014
为了研究SPD热脱离结构与MOV工频击穿点对SPD安全性能的影响,制备了3种不同工频击穿点分布的MOV,按两种不同的结构进行封装、焊接热脱离电极,制得SPD试品.加载约1A~2A的工频电...
[会议论文] 作者:张宁,方超,庞弛,施斌,费自豪, 来源:中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十四届学术年会 年份:2017
为了研究直流老化对ZnO压敏电阻8/20μs脉冲老化寿命的影响,对同一批次的ZnO压敏电阻在125℃、110%的荷电率下进行直流老化,老化时间分别为20、40、60、80、100h.直流老化后对各组压敏电阻进行幅值21.5kA的8/20μs波形大电流冲击老化.研究发现直流老化30h与40h的......
[期刊论文] 作者:王志宏,庞驰,宁华,费自豪,杨光棣,, 来源:城市道桥与防洪 年份:2000
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生、测量监控等方面人手,介绍了S226海滨大桥...
[会议论文] 作者:费自豪,王志宏,陈泽同,刘细华, 来源:第十一届电压敏学术年会暨海峡两岸首次技术研讨会 年份:2004
本文对比了SPD用MOV芯片与通用压敏电阻的性能要求差别,分析了两种热处理烧银工艺对MOV芯片性能的影响,考虑到几何形状与内应力因素,提出34×34mm芯片不宜采用快速烧银工艺。...
[会议论文] 作者:王志宏,庞弛,宁华,费自豪,杨光棣, 来源:第七届压敏电阻器学术年会 年份:1999
对于化学合成瓷料和机械混合瓷料制得的ZnO防雷及避雷阀片的微观结构作了电子探针对比观测,得出阀片的2ms方波通流能力得以提高的根本原因在于瓷片的致密程度的提高及晶粒晶界...
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