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[会议论文] 作者：蔡宏灵,
来源：第十二届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2015
铁电体存在自发极化,而且自发极化可以通过外加电场调控.在信息存储方面有很大的应用.与无机氧化物铁电材料相比,分子基铁电体因结构设计容易、柔性、加工成本低、环保、耗能...
[会议论文] 作者：刘闯,蔡宏灵,
来源：中国晶体学会第六届学术年会暨会员代表大会 年份：2016
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[会议论文] 作者：蔡宏灵,吴小山,高炬,
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
在粉末体块材料研究的基础上,生长了双掺杂(La0.52Y0.15)(Ca0.17Sr0.16)MnO3(LYCSMO)薄膜,衬底是(001)的SrTiO3(STO).原子力显微镜测量表明薄膜的表面平整、均匀,粗糙度仅0.3...
[会议论文] 作者：崔泽鹏,蔡宏灵,吴小山,
来源：中国晶体学会第六届学术年会暨会员代表大会 年份：2016
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[会议论文] 作者：崔泽鹏,刘闯,蔡宏灵,
来源：第8届无机非金属材料专题研讨会 年份：2016
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[会议论文] 作者：蔡宏灵[1]吴小山[1]高炬[2],
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
在粉末体块材料研究的基础上,生长了双掺杂(La0.52Y0.15)(Ca0.17Sr0.16)MnO3(LYCSMO)薄膜,衬底是(001)的SrTiO3(STO).原子力显微镜测量表明薄膜的表面平整、均匀,粗糙度仅0.3...
[会议论文] 作者：蔡宏灵,吴小山,汪风中,胡安,蒋树声,
来源：第四届全国磁性薄膜与纳米磁学会议 年份：2004
用X射线衍射结合Rietveld精修的方法研究了LaYCaSrMnO(LYCSMO)的晶体结构随掺杂量的变化.结果表明,Y和Sr掺杂含量在x≤0.20范围内时只有单一正交相.a,b和c方向的晶格参数几乎...
[会议论文] 作者：蔡宏灵,吴小山,汪风中,胡安,蒋树声,
来源：第四届全国磁性薄膜与纳米磁学会议 年份：2004
用X射线衍射结合Rietveld精修的方法研究了LaYCaSrMnO(LYCSMO)的晶体结构随掺杂量的变化.结果表明,Y和Sr掺杂含量在x≤0.20范围内时只有单一正交相.a,b和c方向的晶格参数几乎保持不变,而Mn-O-Mn的键角从x=0时151.9°增加到x=0.20时的172.7°表明随着x的增加MnO......
[会议论文] 作者：谭伟石,蔡宏灵,邓开明,吴小山,郑鸿祥,
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
本文通过分析论证：SiGe虚拟基片是制备具有应变的SiGe/Si基异质结构的基础,其应变状态直接影响成长于其上的SiGe/Si基异质结构的应变并进而影响后者的光电特性.本文利用固源分...
[会议论文] 作者：解其云,谭伟石,蔡宏灵,吴小山,邓开明,
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
本文通过探讨A位引入空位对电子掺杂型锰氧化物晶体结构的影响,采用标准固相反应法制备名义成分为Y0.2Ca0 8-xMnO3(x=0～0.2)的粉末多晶样品.对其X射线粉末衍射数据分析显示,掺...
[会议论文] 作者：谭伟石,蔡宏灵,吴小山,邓开明,郑鸿祥,
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
本文通过分析论证：SiGe虚拟基片是制备具有应变的SiGe/Si基异质结构的基础,其应变状态直接影响成长于其上的SiGe/Si基异质结构的应变并进而影响后者的光电特性.本文利用固源分...
[会议论文] 作者：施春龙,谭伟石,蔡宏灵,吴小山,邓开明,贾全杰,
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
本文研究用90.离轴射频磁控溅射方法将La0.7Ca0 3MnO3(LCMO)沉积在(001)取向的钇稳定氧化锆(YSZ)单晶基片上,制取厚度分别为200(A),500(A),1000(A)的薄膜样品.通过掠入射X射...
[会议论文] 作者：谭伟石,蔡宏灵,刘金生,吴小山,蒋树声,贾全杰,
来源：北京同步辐射装置2005年学术年会暨学术委员会 年份：2005
本文利用90°离轴射频磁控溅射方法将La0.7Ca0.3MnO3(LCMO)沉积于(001)取向的MgO单晶基片上,薄膜厚度变化范围为5nm到200nm.通过掠入射X射线衍射技术测量了LCMO/MgO薄膜的面...
[会议论文] 作者：沙昊,吴小山,徐乙铭,蔡宏灵,谭伟石,汪风中,林涛,蒋树声,
来源：第八届全国X射线衍射学术会议 年份：2003
锰氧化物磁电阻材料和铜氧化物超导电材料在结构上有限相似的地方.本文介绍用Rietveld方法研究Cu掺杂的LaCaMnO的晶体结构....
[会议论文] 作者：沙昊,吴小山,徐乙铭,蔡宏灵,谭伟石,汪风中,林涛,蒋树声,
来源：第八届全国X射线衍射学术会议 年份：2003
锰氧化物磁电阻材料和铜氧化物超导电材料在结构上有限相似的地方.本文介绍用Rietveld方法研究Cu掺杂的LaCaMnO的晶体结构....
[会议论文] 作者：施春龙[1]谭伟石[1]蔡宏灵[2]吴小山[2]邓开明[1]贾全杰[3],
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
本文研究用90.离轴射频磁控溅射方法将La0.7Ca0 3MnO3(LCMO)沉积在(001)取向的钇稳定氧化锆(YSZ)单晶基片上,制取厚度分别为200(A),500(A),1000(A)的薄膜样品.通过掠入射X射...
[会议论文] 作者：吴小山,蔡宏灵,翟章印,蒋树声,谭伟石,吴忠华,贾全杰,郑鸿祥,
来源：北京同步辐射装置2005年学术年会暨学术委员会 年份：2005
本文利用同步辐射X射线高分辨衍射、掠入射表面衍射、原子力显微镜、电子显微镜等手段研究了SiGe外延层的生长质量、组分与作为缓冲层Si的生长温度之间的关系.研究表明,在外...
[会议论文] 作者：吴小山,蔡宏灵,谭伟石,翟章印,吴忠华,贾全杰,郑鸿祥,蒋树声,
来源：北京同步辐射装置2005年学术年会暨学术委员会 年份：2005
本文利用同步辐射X射线高分辨衍射、掠入射表面衍射、原子力显微镜、电子显微镜等手段研究了SiGe外延层的生长质量、组分与作为缓冲层Si的生长温度之间的关系.研究表明,在外...
[会议论文] 作者：谭伟石[1]蔡宏灵[2]刘金生[2]吴小山[2]蒋树声[2]贾全杰[3],
来源：北京同步辐射装置2005年学术年会暨学术委员会 年份：2005
本文利用90°离轴射频磁控溅射方法将La0.7Ca0.3MnO3(LCMO)沉积于(001)取向的MgO单晶基片上,薄膜厚度变化范围为5nm到200nm.通过掠入射X射线衍射技术测量了LCMO/MgO薄膜的面...
[会议论文] 作者：谭伟石,沙昊,杨立,蔡宏灵,吴小山,蒋树声,郑文莉,贾全杰,姜晓明,
来源：第八届全国X射线衍射学术会议 年份：2003
本文利用掠入射同步辐射X射线衍射(GIXD)技术测量和表征了AlGaN/GaN异质结构的微应变状态....
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