小时延故障相关论文
随着集成电路设计规模的增长和制造工艺的不断进步,高性能处理器芯片在测试和验证等方面面临着日益严峻的挑战。可测试性设计(Desi......
集成电路(integrated circuit,IC)测试是IC产品制造过程中不可缺少的环节。它既要保证IC芯片的正确逻辑,又要保证IC芯片在规定的时......
随着集成电路工艺尺寸不断缩小,电路规模不断增大,要得到很高的小时延故障覆盖率所需的测试向量越来越多,致使小时延故障模拟成本......
随着集成电路工艺尺寸不断缩小,电路规模不断增大,小时延测试所需的测试向量越来越多,因此小时延测试的成本越来越高。为降低测试......
现有的小时延故障模拟方法一般采用基于故障注入的串行模拟方法，是一个显式的故障处理过程，在时间上还有很大的改善空间。通过深入研......
为了保证集成电路时序的正确性，在规定时间内得到正确的响应输出，需要对集成电路进行时延测试。随着集成电路制造工艺进入纳米级，电路......
