峰值功耗相关论文
基于扫描的测试是最常用的SoC测试技术,如何降低扫描测试功耗是SoC测试领域面临的主要挑战之一。这篇文章首先分析了扫描测试过程......
UCC5340主要用于点对点红外通信的光接收器。当采用3V或5V电源时,工作电流只有90μA,非常适用于各种无线控制器。本文介绍了UCC534......
本文重点研究了可关断晶闸管（ＧＴＯ）正向阻断结的三种失效机理。在ＧＴＯ关断过程中，阳极瞬时峰值功耗、阳极尖峰电压和阳极再加峰值电压达到极限......
过大的峰值功耗会使芯片承受过大的瞬间电流冲击 ,降低芯片的可靠性及性能 ,因此有效地对电路最大功耗做出精确的估计非常重要 .由......
针对集成片上天线(OCA)的超高频射频识别(RFID)标签设计了一款RFID专用协议的基带处理器,以满足RFID标签嵌入纸张及微小物体的防伪......
在扫描链阻塞技术中，在扫描测试的任意时刻仅有一个子扫描链活跃，电路的平均功耗，总功耗和峰值功耗都显著降低。但对有些电路，此方法的......
随着视听体验的升级,越来越多的人不满足于几十英寸的电视屏幕,纷纷投入了家用投影机的阵营,以欣赏更加清晰、明亮、巨大的画面,事......
提到高端工程投影机你会想到什么?是大型展览活动现场中看到的超震撼大屏幕?或是公司大型会议室中,讲解PPT的大屏演示?各类用户对......
针对内建自测试（Built—In Self-Test，BIST）技术的伪随机测试生成具有测试时间过长，测试功耗过高的缺点，严重影响测试效率等问题。提出......
提出了基于单周期操作和多周期操作的峰值功耗优化的力引导调度算法。该算法运用传统力引导调度算方法的基本思想，通过对力相关参数......
提出了对同一时钟域中寄存器的测试操作进行划分的方法来降低测试峰值功耗,并且这种划分不需要重新生成测试向量,支持划分前生成测......
提出一种多周期操作峰值功耗优化的改进力引导调度算法．该算法将功耗作为力的参数，能够在调度过程对多周期操作功耗进行平衡分布，实现......
利用FT-SHSim 模拟工具平台,对主流的微处理器核心模型SMT(同步多线程,simultaneous multithreading)和MSS(适度超标量,moderate s......
扫描测试作为数字集成电路设计中最常用的可测性设计方法，能显著提高电路的可测性，但同时也会引起测试功耗问题。本文采用划分待测电......
功耗管控是高性能计算系统和分布式数据中心管理的热点问题。当机房供电受限时需要对机群系统的功耗上限进行控制，使有限的电力适应......
随着技术的发展,GPU和CPU的发展非常迅猛,我们在体验速度快感的同时,电脑的功耗无形中已经增加了很多。随着架构和制造工艺的提高,......
随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求。内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注，本文对目前内建自测试的可测性......
<正>概述单芯片瞬态电压抑制器二极管采用6引脚SOT457（SC-74）封装,可在6.2V电平下提供4位宽度的ESD瞬态抑制。·通过AEC认证特性......
