可测试设计相关论文
本文介绍了测试技术的演进,并例举了Synopsys公司,Syntest Technologies等公司在研发DET技 术中的例子。
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数字高清晰度电视(Digital HDTV)是当代最先进的图像压缩编码技术和现代通信技术的结合，已成为当今世界高技术竞争的焦点。它的推出......
现阶段,人们对芯片安全性的要求越来越高,如何对芯片中的加密算法进行保护是芯片安全的一个重要研究方向。尽管加密算法和解密算法......
本文结合我国军用雷达系统及测试性设计的现状，通过与国外雷达系统的可测试性设计差距的比较，结合目前国内雷达系统的设计，提出了建立......
该文以基于美国ATSC(AdvancedTelevisionSystemsCommittee)的A53标准的高清晰度电视信道接收芯片的设计为实例,对目前主流的各种可......
测试与调试分别有不同的问题.在测试中,目的是要尽快确定芯片是否以较高的稳定性正常工作,而不是绝对的稳定性.现在芯片设计团队普......
本文介绍了测试技术的演进,并例举了Synopsys公司,Syntest Techno1ogies等公司在研发DFT技术中的例子.......
提出了一种片上系统内嵌IP芯核测试响应的空间压缩方法.将内建自测试中的测试矢量(样式)计算器状态作为空间压缩器的输入,只需利用......
在复杂电子系统中对数字系统工作的可靠性要求越来越高，因此提高数字系统的可测试性变得尤为重要。要提高数字系统的可测性，就需要设......
针对8位微控制器（MCU）数据通道中桶形移位器的可测试性问题，提出了一种新颖的确定性内置自测试（BIST）电路设计方案，并对其进行了验证。该......
基于遗传算法，建立了片上系统芯片（SOC）的图模型，对逻辑级的SOC结构进行精确量化；然后，对模型应用遗传算法进行分析，得到了电路的理想分割......
多片嵌入式SRAM的测试一般由存储器内建自测试MBIST设计来完成。为了迎接多片SRAM的测试给DFT设计带来的挑战。文中以一款基于SMIC......
Parity testing is one of the compact testing techniques,which, traditionally, relies on applying all 2n input combinatio......
本文从模块化、层次化的思路出发,分析研究了飞轮储能用电机的可测性设计框架、分层标准和总体参数分析。提出了基于系统功能划分......
为了在提高芯片测试覆盖率的同时减少生产测试时的测试向量,提出了一种基于对电路进行抗随机向量故障分析,进而在电路中插入测试点......
在摩尔定律的指引下,集成电路大多向着高密度、高速度、高可靠性的方向发展,电路间的数据传输要求显得越来越高。串行的Serdes接口......
1 可测试设计和必要性和可能性“数字电路”是《脉冲与数字电路》课程的主要组成部分.这门课程在经历了约15年的教学之后已经比较......
多信道漫游FLEX协议是适用于高速寻呼的无线通讯标准协议。目前国内以及东南亚寻呼市场虽然因为手机的日益普及化承受着巨大压力，但......
移动计算和数字多媒体的应用成为后PC时代的趋势已经是一个不争的事实,数字集成电路不断向专用化发展。面对大规模的数据量、计算......
本文以面向电机控制数字信号处理器设计和测试为依托，从理论和实践两方面对数字信号处理器内核、电机控制电路、可测试设计的设计思......
集成电路(IC)产品需要进行测试以保证其产品的良率。近几十年来,随着超大规模集成(VLSI)技术的迅速发展,芯片中晶体管的密度成指数......
本论文的研究内容是国家“863”资助项目“用于彩屏手机的液晶显示驱动控制电路芯片开发”的一部分。作者以该芯片的测试和测试电......
测试能够有效地保证电路的可靠性,是集成电路产业链——设计、制造、测试、封装中必不可少的一个环节。随着半导体工业的发展,测试......
