有效介质近似相关论文
用XeCl准分子激光器对氢化非晶硅（a－Si：H）薄膜进行了诱导晶化处理。测量了结晶膜的椭偏谱。利用多层膜模型与Bruggeman有效介质近似（B－EM......
本文利用椭偏光谱法测量了能量为200keV、剂量为2×10~(18)cm~(-2)的~(16)O~+注入Si以及退火样品.应用多层介质膜模型和有效介质近......
本文基于有效介质近似原理(EMA)提出一简易模型(MEMA)，用于描述孔隙对放电等离子烧结 (SPS)SiCp/Al复合材料热导率的影响规律。MEMA......
该文主要研究了宏观非均匀颗粒复合介质的光学性质.(一)、研究了金属-电介质颗粒复合体有效非线性响应的温度效应.我们研究了非线......
采用红外椭圆偏振光谱对微波等离子体化学气相沉积法 (MPCVD)和热丝化学气相沉积法 (HFCVD)制备的金刚石薄膜在红外波长范围 (2 5......
在金属-绝缘颗粒复合介质中,当金属颗粒的浓度达到渗流阈值时,复合介质发生金属-绝缘体转变.采用有效介质近似(EMA)研究了颗粒系统......
采用射频磁控共溅射技术制备了Cu体积分数分别为15%和30%的Cu-MgF2复合纳米颗粒薄膜.透射电镜形貌图像表明,薄膜由不同形状的Cu晶......
对两组份非线性复合材料的光学非线性性质的临界行为进行了研究。考虑第一组份为非线性材料 ,其电流、电压间服从I=g1V +χ1Vβ 关......
利用有效介质近似理论,在Pandey和Kakar的经验模式基础上提出了一个改进的研究强风驱动下白冠覆盖的海面有效发射率模式.该模式讨......
用红外椭圆偏振仪对热丝化学气相沉积法制备的金刚石薄膜的光学参量进行了测量。由于表面状态和界面特性的差异 ,分别对镜面抛光硅......
在外磁场作用下,复合介质的法拉第磁光效应依赖于颗粒膜电介质张量。而复合介质的电介质张量的计算相当复杂。运用了有效介质近似......
应用复合二元颗粒材料的空间平均电场（E）、平均电位移〈D〉之间的关系及复合介质的非线性光学性质，表示出复合介质的有效介质函数er=F......
The effective dielectric response of linear composites containing graded material is investigated under an applied elect......
在金属－绝缘颗粒复合介质中，当金属颗粒的浓度达到渗流阈值时，复合介质发生金属－绝缘体转变，采用有效介质近似（EMA）研究了颗粒系统中阈值......
通过制备不同体积含量的MnZn铁氧体磁性颗粒与SiO2非磁绝缘颗粒组成的颗粒复合体.测量了不同频率、不同温度下复合磁介质的有效磁......
通过参考有关文献关于卢瑟福背向散射能谱（rutherford back scattering spectrometry，RBS）、透射电镜（transmission electron microsco......
根据铝阳极氧化初期不同阶段Al-H2SO4体系的界面特征建立多个光学模型,并采用有效介质近似解析了高时间分辨率的原位椭圆偏振光谱......
运用了两种自洽条件：（1）在长波长极限下，非均匀复合介质的净极化为零；（2）非均匀复合介质的有效电场等于单个颗粒中局域场的平均值，研究了具......
Fabrication and thermal conductivity of copper matrix composites reinforced by tungsten-coated carbo
Carbon nanotubes(CNTs) were coated by tungsten using metal organic chemical vapor deposition.Magnetic stirring was emplo......
在强外场作用下，复合介质的电输运性能服从非线性的本构关系。复合介质非线性电导率的计算相当复要，在线性复合介质的理论框架内，已发......
研究了具有色散现象的金属磁性颗粒无规地浸没在无色散基质中的复合材料有效折射率．考虑金属磁性颗粒的大小与入射波波长比较小得多......
文中以有效介质近似理论为基础，考虑了纳米颗粒在基液中强烈的Brownian运动对强化传热的作用和纳米颗粒的表面吸附液体层、纳米颗粒......
本文利用椭圆偏振光谱法测量了用ＭＯＣＶＤ方法在ＧａＡｓ衬底上生长的ＡｌＧａＩｎＰ及ＡｌＧａＩｎＰ掺Ｓｉ两个样品，在可见光区室温下的光学常数，求得吸收系数、介电函数随光子能量的......
新型的“左手材料(left-handed material)”在固体物理、材料科学、光学和应用电磁学领域内已获得愈来愈多的关注。所谓“左手材料......
椭圆偏振光谱法(简称椭偏法)是一种常见的薄膜光学参数测试方法,具有灵敏度高、测试精度高且对测试样品无损伤等优点。首先系统介......
