过电应力相关论文
器件测试是发现集成电路潜在缺陷的关键步骤，但由于操作不当，也有可能引入新的失效。通过一个典型的失效案例，分析了器件测试过程中操......
本文以CMOS器件、稳压器、运算放大器为例讲述了元器件测试过程中过电应力的来源和防护方式.熟悉测试设备的工作原理和状态，正确的......
电容式触摸屏凭借可带给用户流畅便捷的人机交互操控体验而逐渐被应用到汽车电子领域,但在导入应用的同时,需优先重点处理好车载应......
反熔丝电路作为航天领域广泛使用的核心芯片,其失效机理及是否与反熔丝器件相关尤为重要。对某款反熔丝电路电源过应力失效问题进......
当前随着我国电子行业的不断发展,集成电路短路失效引起了人们的重点关注,过电应力极容易造成CMOS集成电路短路失效,其中,导电通路......
在市场中11司服器电源以460W，750W，11OOW为主流，一次侧主要采用移相全桥拓扑。其结构简单，以四个电子开关零电压开关，提高开关频率，实现......
通过频率试验和阻断电压试验，研究了过电应力对ＩＧＢＴ模块的影响；利用扫描电镜（ＳＥＭ）和液液晶（ＬＣ）技术，对失效模块的失效机理进行了分析；报道了试验结果......
为了对电应力失效现象进行深层次的认识和理解，本文对电应力失效的现象特征、失效机理、检测方法和分析结论进行了总结．总结出了电应......
期刊
电子元器件的失效往往与其承受的电应力是紧密相关的,降低其承受的电应力可以提高其使用可靠性。通过某型微波组件过电应力来源排......
对过电应力引起的CMOS集成电路的开短路失效模式。从电路结构、导电通路、误操作等方面进行了失效原因探讨。列举了一些过电应力的......
ESD保护电路已经成为集成电路不可或缺的组成部分，如何避免由ESD应力导致的保护电路的击穿已经成为CMOS IC设计过程中一个棘手的问......
为研究过电应力对半导体分立器件可靠性的影响,以国产ZL20螺栓形整流二极管为例,建立整流二极管基本失效率模型,揭示半导体分立器......
对不同大功率LED芯片进行单次脉冲浪涌冲击,对比不同大功率LED芯片在相同浪涌波形下的抗过电应力能力.实验共测试5款LED产品,发现......
会议
对一种集成稳压器的失效问题进行了研究并分析了失效机理。通过内部目检、微光分析、扫描电镜及能谱分析,定位了集成稳压器的失效......
在塑封IC器件中,封装分层往往会产生电和封装的可靠性问题.由过电应力(EOS)和再流焊中的水汽膨胀引起的分层会显示出不同的失效模......
