通过X射线衍射，DSC和交流阻抗等测试方法研究了镉掺杂Bi2VO55的结构，相变和电性能。由于Cd^2＋的半径与V^5＋和Bi^3＋的半径都比较接近，所以......

用溶胶-凝胶法分别在LNO/Si（100）和ITO/glass衬底上成功制备了Bi2VO5.5（BVO）薄膜。通过X射线衍射（XRD）和原子力显微镜（AFM）研究了薄膜的结......