利用诱导效应指数，建立了两个用计算硅烷基衍生物中Ｘ－Ｓｉ的键的键裂能的方法，２４个可比较值的平均偏差分别为３．１５和２．５７ｋＪ·ｍｏｌ＾－１同时，也得到两个用以计算......