二叉判决图相关论文
由于电路宽度很好地反映了电路的复杂性,本文提出了一种基于电路宽度的启发式策略,根据电路宽度来实现SAT算法与BDD算法的交替,充......
随着集成电路设计规模的日益增大,组合验证已成为时序电路的形式化等价性验证的重要手段.为了验证较大规模的电路,通常需要将随机......
二叉判决图ＢＤＤ是一种能有效表示布尔函数的方法，这种方法在ＥＤＡ领域中有着广泛的应用，该文介绍以ＢＤＤ为基础演变出的各种判决图并分析它们之间的......
符号模型检查（ＳｙｍｂｏｌｉｃＭｏｄｅｌＣｈｅｃｋｉｎｇ，ＳＭＣ）是一种有效的形式验证方法．该方法主要有２个难点：一个是建模，即如何建立并用有限内存来表示电路的状态机模型；另一个是在此......
带时间参数的二叉判决图（ＴＢＤＤ）在电路的时滞故障测试中有着重要的应用价值，但其变量排序是用常规方法无法解决的一个优化问题。本文提出一......
本文提出了一种结合二叉判决图BDD和布尔可满足性SAT的新颖组合电路等价性验证技术.算法是在与/非图AIG中进行推理,并交替使用BDD......
在基于逻辑电路的布尔推理过程中 ,经常用到二叉判决图 (BDD)与布尔可满足性 (SAT)相结合的算法 由于电路宽度能很好地反映电路的......
目前提高求解SAT问题完全算法的计算效率问题已成为挑战性研究问题。提出了一种基于启发式分组的SAT完备算法。启发式分组策略将一......
自动测试产生(ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成,也是芯片设计验证的重要引擎之一.提出了一种组合电路测试产生的代数方法,既可作......
有序的二叉判决图（ＯＢＤＤ）是布尔表达式的一种有效表示方法，但它的体积对变量排序具有较强的依赖性。本文提出一种电路结构图，并在此基础上定......
随着集成电路设计规模的日益增大,结合多种推理引擎已成为组合电路形式化等价性验证的重要手段.提出一种基于电路拓扑结构分析的组......
近些年在布尔可满足性(SAT)领域取得了较大进展,一系列基于DPLL框架的优化算法被提出,有效SAT解算器诸如zChaff等已可解决很大规模......
自动测试模式产生(Automatic Test Pattern Generation:ATPG)技术在针对芯片制造缺陷的生产测试中得到广泛应用。ATPG作为测试向量......
VLSI技术的快速提高导致硬件设计复杂性增大,使得检查电路的正确性已经变成一项非常困难的任务。在后面的设计环节中或者等到产品......
