自动测试模式生成相关论文
电路集成度和复杂度的不断增加使得电路的故障诊断越来越困难。该文在蚂蚁路径ATPG算法的基础上，引入了电路设计中的可测性分析理论......
对时序电路的迭代逻辑阵列（ILA）施加组合ATPG（自动测试模式生成），可得到不可测故障识别的定理和条件，其条件针对故障电路给出。基于无故......
介绍了自动测试模式生成的测试故障模型和设计流程，以及自动测试模式生成结合可测性设计技术在测试ＲＳＩＣ ＣＰＵ制造缺陷中的应用......
自动测试模式产生(Automatic Test Pattern Generation:ATPG)技术在针对芯片制造缺陷的生产测试中得到广泛应用。ATPG作为测试向量......
随着集成电路规模和复杂度的迅速提高，集成电路的测试工作变得更加复杂和重要。测试向量的生成速度和分布对测试收敛速度具有决定性......
测试生成的目的是缩短测试生成时间和提高测试质量,包括测试模式集的生成和优化两个关键步骤。数字电路的复杂度越来越高,测试生成......
