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叠层扫描成像技术相关论文

基于叠层扫描成像技术的成像透镜透射波前测量方法

将叠层扫描成像技术(ePIE)用于成像透镜透射波前的高精度测量。将透镜的透射光束照射至一个固定于二维扫描台的衍射物上,并在其后......

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