向量生成相关论文
扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段.由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面......
随着集成电路制造工艺的不断细化及芯片频率的不断提高,越来越多的跟时延相关的故障涌现出来。单纯的固定型故障(stuck-at)测试已经......
随着集成电路工艺线宽的不断缩小与工作频率的不断提高,串扰(Crosstalk)效应越来越成为影响电路信号完整性(signal integrality)的......
扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,是提高测试质量的有效手段.但由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的......
为使采用通用涡旋型线的涡旋盘生成过程简单便捷、易于实现,通过级数思想拓展了基于泛函的通用涡旋型线表达式,根据解析几何的向量......
超大型测试向量生成技术是数字电路芯片测试中的难点,对芯片测试效率和产品良率都有较大影响。介绍一种基于TDS向量生成系统的超大......
验证已成为系统芯片(SoC)设计所面临的重大挑战,形式验证所能验证的电路规模远远不能满足设计需要,基于仿真的验证方法一直占统治......
随着半导体产业的发展,市场需求的提升,集成电路系统变得越来越复杂,相应的测试费用和难度也不断攀升。可以说在影响集成电路成本......
SIFT算子由其对于旋转变换、尺度变换、仿射变换以及灰度变化具有良好的不变性得到了广泛应用。然而随着视频处理技术的飞速发展,......
测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型......