局域总剂量相关论文
Flash ROM芯片的存储阵列和外围电路均具有较高的辐射易损性,辐射损伤模式多样.为对其辐射敏感电路进行定位和分析,本文采用X射线......
高能重离子在其径迹周围局域空间所沉积的微剂量,足以引起器件特性的永久性退化,导致存储器状态无法改变或器件功能异常等现象。本......
