平均电荷重心相关论文
Ｃ－Ｖ分析法是在半导体技术Ｃ－Ｖ分析法基础上于９０扯代发展起来测量膜厚小于２μｍ且具有ＭＯＳ结构的薄膜驻极体电荷重心及电荷密度的新方法。......
报道通过表面电位测量和C V分析来确定硅基多层无机驻极体薄膜中平均电荷重心及电荷密度的方法.它包括两个非破坏性的测量:首先,通......
本文以杜邦公司的聚酰亚胺市售商品膜为样品，通过等温表面电位衰减测量及热激放电电流谱分析，讨论了环境湿度对聚酰亚胺薄膜驻极体电......
本文通过恒压和恒流充电后的聚丙烯(Polypropyrene简称pp)驻极体的等效表面电位衰减曲线和开路TSD(Thermally Stimulated Discharg......
通过正负常温和高温电晕充电和常溫充电后不同温度下热老化后的热刺激放电(TSD)电流谱的测量,研究了聚丙烯(PP)突出的驻极性能及其......
本文通过等温表面电位衰减曲线和开路ＴＳＤ测量，研究了环境湿度对４种典型的驻极体材料ＦＥＰ，ＰＴＦＥ，ＰＣＴＦＥ和ＰＩ驻极体的电荷贮存稳定性及脱阱电荷在体内输运的影......
