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随着集成电路的生产工艺不断进步,显示驱动芯片得以飞速发展。显示驱动芯片规模不断扩大,承担了更多的功能。显示驱动芯片结构复杂......
建立模拟器对片上网络的性能进行分析和比较是目前较为流行的做法。本文对目前出现的模拟器的特性进行了分析，对模拟器上运行的测试......
本文介绍了一种在UVM验证平台的基础上，利用遗传算法分析功能覆盖率信息，指导生成测试激励，建立从覆盖率到测试生成的闭环系统，与......
随着微处理器设计规模和复杂度的增加，传统的硅前验证难以发现所有的错误，需要在硅后验证阶段发现和定位问题。针对硅后验证中测......
随着故障诊断技术的发展,利用专业的仿真工具对实际电路进行可测试性分析仿真用的越来越普遍。LASAR（逻辑自动激励与响应）就是一套优......
提出一种针对内建自测试的测试激励聚类移位压缩方法.对难测故障的测试向量进行聚类压缩,将测试向量划分为若干类,每类内的向量相......
非线性模拟电路瞬态测试激励信号的参数对电路故障识别率影响很大，在搜索最佳激励信号的过程中，需建立非线性模拟电路的系统模型。El......
在基于FPGA的复杂数字系统的仿真测试中。设计者常常面临各种挑战。以数字图像处理系统的仿真为例，如果采用完备性仿真测试方法，那么......
随着大规模集成电路、多层印制板的出现，传统的基于自动测试设备（ATE）的测试方法已难以满足电子设备（板级）自动测试故障诊断的需要，本文......
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分析AFS ECU测试需求,建立了硬件在环测试平台的总体架构;采用PXI技术路线搭建了系统硬件,基于Veristand环境开发了系统软件,最终......
模数混合电路的内建自测试(BIST)研究是近些年比较有挑战的,其中如何以较小的硬件开销获得模拟激励信号以及数据响应分析比较关键......
随着集成电路的发展和信息时代的到来,DSP芯片的市场需求在快速增长,其应用无处不在,已在我们的生活中占据了重要的地位。在这种背......
摘要：伴随着设计规模的不断扩大和工艺水平的日益提高,集成电路技术正在飞速发展。一方面,客户的需求日益多样化,对芯片的设计要求......
测试激励的选择影响电路故障诊断的精度,为克服现有方法不足,提出了一种基于电路可诊性和遗传算法的模拟电路测试激励优化方法。对......
针对模拟电路多频测试问题,提出了一种基于类间马氏距离的测试激励优选方案。通过幅频特性分析,确定频率优选范围。根据参数扫描分......
在基于Volterra核模拟电路故障诊断中，测试激励信号的参数决定了被测电路各故障特征差异的大小，影响故障诊断的准确度和效率，是电路故......
以太网技术由于其结构简单、成本低廉、带宽易于扩展和兼容性好等诸多优点,逐渐深入到人们生活的各个方面。而以太网控制器芯片是......
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