利用ＸＰＳ定量测量分子束外延生长的三元合金碲硫锌ＺｎＳ１－ｘＴｅｘ（０〈ｘ〈１）薄膜的组分ｘ，对比用高分辨率Ｘ射线双晶衍射技术的测量结果，相对误差小于１０％。......