缺陷侦测相关论文
缺陷状态未知前提下,始终保持在缺陷的中心部位施以冲振相对困难,而当冲振点作用于缺陷边缘状态下,是否能准确测出缺陷的极值频率,......
李宁成博士于1981年在美国阿克伦城大学获结构．性质关系聚合体科学博士学位，现任美国铟(INDIUM)科技公司副总裁。李博士对于助焊剂和......
在过去几年里,小型PCB诸如硅芯片级以及便携式移动电话的生产者和设计者们已经发现如果要保持自己的竞争力并具备生产高密度封装板......
缺陷状态未知前提下,始终保持在缺陷的中心部位施以冲振相对困难,而当冲振点作用于缺陷边缘状态下,是否能准确测出缺陷的极值频率,......
在过去几年里,小型PCB诸如硅芯片级以及便携式移动电话的生产者和设计者们已经发现:如果要保持自己的竞争力并具备生产高密度封装......
