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背散射测厚相关论文
背散射分析测定锗(锂漂移)表面的氟化钙薄膜厚度
<正> 在制造同轴锗(锂漂移)探测器时,为了减少表面漏电流、降低噪声,需要在锗表面生长一层有一定厚度的氟化钙复盖膜。因此,在选择......
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背散射测厚
锗基体
氟化钙膜
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