自动化测试设备相关论文
在现在的复杂集成电路中,用来保证质量的集成电路测试占制造成本的近一半。多年来,集成电路的市场增长和技术进步推动了测试的发展......
本文提出了一种采用ATE实现航空指示仪表维修智能化检测的方法.该方法试图减小人为因素对检测结果的影响,提高测试效率与精度.......
基于排列熵模型,构建一种产品质量熵控制因子,将其应用于自动化测试设备的产品质量管理中。通过神经网络算法反推系统排列熵,实现......
无线通信因其巨大的潜在市场，已成为通信领域研究的热点和众多通信厂商竞逐的制高点。当今的无线通信终端设备，其最核心的部分是SoC(......
现如今,随着互联网的普及,移动通信设备迅猛发展且逐渐成为人们日常生活中不可或缺的一部分。基带芯片作为移动通信设备的核心,其......
半导体芯片在流片与封装过程中会不可避免地带来一些误差及参数漂移,同时芯片自动化量产测试环境也会引入一定的不确定因素。这些......
本文研究的是舵系统自动化测试设备，用以检测和考核舵系统在实际负载条件下的性能和控制精度等参数。舵系统——作为飞行器控制系统......
本文通过介绍一种ATE（Automatic Test Equipment）测控平台，剖析了ATE的平台框架、系统结构与测控原理。并在此基础上．结合项目开发经验......
德州仪器（TI）推出一款高分辨率（24位）的高速度（625kSPS）△∑型模数转换器（ADC）。ADS1672拥有高带宽、出色的AC与DC性能以及双路径数字滤波......
针对MEMS传感器人工测试、筛选存在的工作效率低、易出错等缺点，设计了一种MEMS电容式加速度计嵌入式自动化测试系统。系统主要由嵌......
设计并实现了基于虚拟仪器的PHS手机自动化测试系统；该系统采用基于PXI总线的在线测试技术、基于Web Service的分布式测试技术、基......
移动通信手持机用锂离子电源充电器（以下简称“充电器”）的检测技术研究是依据国家通信行业标准YD／T998.2—1999《移动通信手持机用锂......
在对机载嵌入式计算机组成结构进行分析总结的基础上,利用工业控制计算机和标准扩展板卡组成了一套通用机载嵌入式计算机自动化测......
随着自动化测试技术的发展．出现了各种各样的自动化测试设备，同时也出现了多种多样的ATE软件平台。ATE软件平台是一个开发测试程序和......
安森美半导体推出三款高精确度、低歪曲率且配备CMOS输出的1：4时钟扇出缓冲器NB3N551、NB3L553以及NB3N2304NZ。这些器件主要用来产......
PCI接口16个16位高分辨率模拟输入通道的多功能数据采集卡PCI一9221的采样频率。最高可达250kS／s，支持可程序化多功能数字I／O功能，可用......
介绍了数传接收机自动检测设备的设计。根据对被测对象的测试需求分析，所有测试资源均采用GPIB程控仪器设备；火力系统模拟器用于模拟......
国产化高可靠多路绝缘电阻测试仪是采用单片机87C51控制技术设计的新一代高质量产品,属于多路点对点之间绝缘电阻检测的通用自动化......
日前，德州仪器（TI）宣布推出一款高分辨率（24位）的高速度（625kSPS）∑型模数转换器（ADC）。ADS1672拥有高带宽、出色的AC与DC性能以及双路径数......
本文通过阐述自动化测试与自动化测试设备,分析通用自动化测试设备、通用自动化测试设备的软件平台,对通用自动化测试设备的开发流......
2015年11月4日,NI公司和Astronics Test Systems公司(Astronics Corporation全资子公司)今日宣布他们共同为国防和航空航天领域开......
2011年7月，株式会社爱德万测试成功收购惠瑞捷。自此以后，惠瑞捷成为爱德万测试的全资子公司。此次收购将使爱德万测试集团成为世界......
多总线作为不使用片上高速缓存的情况下在最大化系统生产能力、成本效率较高的机制下已经有很长的应用时间.测试早期的器件,工程师......
戈尔公司（Gore）推出应用于台式测试仪，探针测试仪，平行数据连接，生产线测试设备，自动化测试设备的戈尔GORE超高密度（UHD）板到板互联组件在......
随着越来越多的新型器件设计采用PCI高速总线,集成电路制造商在新串行总线测试方面正面临新的挑战.对于数字总线,传统的功能和参数......
数字仪器提供了开发智能半导体测试系统所需的硬件与软件功能2016年8月2日,NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI)作......
德州仪器日前宣布推出一款高线性度的16位逐次逼近（SAR）模数转换器ADS8372。该器件能够在-40～＋85℃的工业温度范围内提供多种特性，如16......
惠瑞捷宣布推出V6000测试系统，可在同一套自动化测试设备（ATE）机台上，测试快闪和DRAM内存，测试成本低于现有的解决方案。V6000可调整适......
摘要：针对黑盒测试用例设计完备性问题，从充分考虑输入条件的各种组合、输入条件之间的相互制约关系出发，提出了基于因果图的软件测试......
美国总审计署于2003年针对美军在自动化测试设备采办、管理、使用和更新换代方面存在的问题进行了较深入的研究，并在给众议院的报告......
半导体产业工艺日新月异，测试与量测技术的重要性也大幅提升，由于日前多芯片、多核心、甚至整个系统整合于单一芯片所衍生的复杂性，使......
该文首先介绍了反熔丝FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列)的典型结构,分析了传统反熔丝FPGA测试面临的难......
随着动车检修业务的迅速扩大,原有MON单元检修测试模式难以支撑未来的检修业务需求,开发MON单元自动化测试设备,成为解决问题的突......
首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布，在广大客户的支持与肯定下，惠瑞捷在VLSI Research2009年客户满意度调......
控制自动化测试设备（ATE）测试指令序列的计算机程序的开发是昂贵而费时的，编写测试程序通常指定ATE使用的仪器和建立并测量这些仪器参......
IEEESCC20为宽域测定环境（ABBET）和自动化测试设备人工智能专家系统（AI-ESTATE）拓展标准的工作即将完成。ABBET的分委会正准确通过它的......
文中介绍基于GP-IB技术的加速度计自动化测试设备的设计与实现。它采用GP-IB总线技术和Visual Basic编程,能同时测量多块加速度计,......
弹载计算机是导弹武器系统的核心部件,具有复杂的电气特性及对外接口,而现有测试设备不能满足新研制的弹上设备的测试需求。为此,......
复工初期面临人员与物流困难凡己科技较早的获批了复工申请通过开展快速培训,使办公室人员和技术人员具备上产线操作能力,开工首日......
ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清......
美国国家半导体公司（National Semiconductor Corporation）宣布推出一款业界最低功率（典型值为21mA）而传播延迟时间不超过1纳秒（700ps）的......
