电路集成度和复杂度的不断增加使得电路的故障诊断越来越困难。该文在蚂蚁路径ATPG算法的基础上，引入了电路设计中的可测性分析理论......

提出了一种VLSI时序电路自动测试型生成(Automatic test pattern generation,ATPG)的新算法.传统ATPG算法采用局部状态转换图或收......

提出了一种针对VLSI电路多故障ATPG(Automatic Test Pattern Generation)的新算法.该算法引入蚂蚁路径定义,将多个故障点的前向传......