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依据离化杂质散射、声学声子散射和谷间散射的散射模型,在考虑电子谷间占有率的基础上,通过求解玻尔兹曼方程计算了不同锗组分下,......
导电原子力显微镜(CAFM)是在原子力显微镜(AFM)上发展出来的一种可用于研究表面电学性质的技术,利用导电针尖同时测量单个半导体量......
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制作了基区Ge组分分别为0.20和0.23的多发射极指数双台面结构SiGe异质结双极型晶体管(HBT)。实验结果表明,基区Ge组分的微小增加,引起了......