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高性能处理器中浮点乘加部件的算法和实现一直是研究热点,同时高精度的浮点数据测试日益成为测试难点,本论文基于IEEE754相关标准介绍了一种浮点乘加部件的测试方法。
一种浮点乘加部件的测试方法
【摘 要】
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高性能处理器中浮点乘加部件的算法和实现一直是研究热点,同时高精度的浮点数据测试日益成为测试难点,本论文基于IEEE754相关标准介绍了一种浮点乘加部件的测试方法。
【机 构】
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国防科技大学计算机学院长沙410073
【出 处】
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第十一届计算机工程与工艺全国学术年会
【发表日期】
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2007年8期
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