一种动态检查点间隔策略

来源 :第七届中国测试学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lxget
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
  检查点技术是保障计算机系统可靠性的一种常用方法,检查点间隔的设置和选取对提高计算效率具有重要意义,合理地设置检查点的间隔、提高任务执行效率和保证系统更好的可靠性是目前检查点间隔研究的热点。在故障次数服从泊松分布的条件下,提出一种基于指数分布和正态分布的动态检查点间隔策略,该策略采用指数分布函数定位假设故障点,使用正态分布函数描述实际故障点接近假设故障点的程度,并能够根据故障发生情况动态的调整检查点时间间隔。仿真结果表明:算法开销较低,检查点间隔更加趋于合理,适用于一段时间内故障频发的恶劣应用环境。
其他文献
我不相信一个个人理财做得一塌糊涂的人,他的金融研究会做得很好未来10年要有一两亿人进入城市居住,这些进城的人要住房子,就决定了房地产在近20年是一个高速发展的行业年轻
  本文提出一种基于FDR编码高效测试数据压缩的扫描树结构.首先,我们分析了扫描树技术和FDR编码技术结合的高效性.然后,我们提出了一种扫描树构造方法来降低确定位的数目,
  为了满足系统芯片对通信带宽的要求,片上网络逐渐成为多核处理器互连的主流方案。然而随着集成电路技术进入纳米时代,由于制造缺陷、电粒子轰击等原因,片上网络出现故障
会议
  随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高,其测试变得越来越复杂,测试成本也越来越高。按照目前的发展趋势,测试成本将有可能超过芯片自身的设计和制造成本,如何降低过高的测试
  高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路,而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了带有补偿晶体管的多米诺或门结构,通
  随着制造工艺的不断进步,老化效应导致的动态参数偏差和漏电给集成电路的可靠性带来了严峻挑战。目前关于电路老化和漏电的协同优化方法或者以侵入式方法实现,或者采用输入
会议
  三维集成电路是通过硅通孔将多个相同或不同工艺的晶片上下堆叠并进行垂直集成的新兴芯片集成技术。通过这种集成,芯片可获得更小的外形尺寸、更高的片上晶体管集成密度
会议
  集成电路工艺水平提高的同时,老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究,提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行
  基于振荡的测试方法(OBT)对待测电路进行重构,使其产生稳定的振荡波形。传统的OBT方法得到的振荡波形为单频正弦波,以频率和幅值作为故障特征建立故障字典,故障覆盖率较低。
  SRAM型FPGA具有设计开发周期短、设计制造成本低、可反复编程、灵活性高等优点,在航空航天领域中的应用逐渐受到重视。但是SRAM型FPGA极易受空间高能带电粒子导致的单粒子
会议