扫描树相关论文
庞大的测试数据量对自动测试设备(ATE)的存储性能、I/O通道数和工作频率提出了更高的要求,同时增加了测试应用时间,提高了测试成本......
尽管扩展相容性扫描树技术可以彻底地降低测试应用时间和平均测试功耗，扫描输出的个数却大大增加．这使得测试响应的数据量增加，从而为......
本文针对三维芯片测试,首先提出了一种扫描结构,这种结构考虑了硅通孔（through silicon vias）互连的代价,在有效的降低测试时间的同......
利用图像经过小波变换后系数的分布特点,能够有效地进行图像编码。为了充分利用小波系数的带内相关性和带间相关性,提出了一种有效......
在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值可以显著地减少测试应用时间,但会使测试需要的引脚数和测试响应数据量增......
针对基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法在生成相容类时存在的问题，对其进行3个方面的改进：选取包含X的扫描单元，选取度更小的......
随着三维集成电路(Three-Dimensional Integrated Circuits,3D-ICs)的不断发展,测试在集成电路的实现过程中是必不可少的环节。基......
可测试性设计使集成电路的测试变得更容易。扫描测试设计作为可测性设计中最重要的技术，却存在测试时间长、测试功耗高的缺点。这使......
电子系统广泛应用于生活的各个角落,而电子系统的关键部件是集成电路(IC)。近几十年来,随着超大规模集成(VLSI)技术的迅猛发展,芯......
如今,数字系统已经广泛应用于生活中的各个角落。而对于各种数字系统,集成电路是其中最关键的部分。近几十年来,随着超大规模集成......
随着芯片设计向深亚微米工艺的推进，数字IC的设计技术水平越来越高，特征尺寸越来越小，集成密度越来越大。IC制造能力的不断攀升对IC测......
