扫描树相关论文
针对扫描树测试结构中树形扩散扫描方式存在的三个问题：冗余功耗较大，输出端口太多，响应压缩容易产生混淆，本文提出了一种低硬件开销的......
扩展相容性扫描树技术通过添加逻辑非和异或函数扩展了扫描单元的相容性,并对相容的扫描单元扫描移入相同的测试向量值,大大减少了......
庞大的测试数据量对自动测试设备(ATE)的存储性能、I/O通道数和工作频率提出了更高的要求,同时增加了测试应用时间,提高了测试成本......
扫描树结构能够有效地减少集成电路的测试数据量和测试时间,降低电路的测试成本.为减少三维电路中扫描树的叶子节点和硅通孔数量,......
基于Apriori算法及其改进算法,提出了一种从大型数据库中挖掘关联规则的快速算法.定义了自适应步长和扫描树的概念,并采用修剪......
该文着重研究了静止图像的压缩编码问题.具体地说，主要的做了以下几方面的工作：1、介绍了小波分析的理论基础，为图像压缩编码做准备.......
尽管扩展相容性扫描树技术可以彻底地降低测试应用时间和平均测试功耗，扫描输出的个数却大大增加．这使得测试响应的数据量增加，从而为......
提出了一种基于展开宽度可调的解压缩技术和X-压缩的多扫描电路的测试压缩方法。采用可变宽度的扫描链解压缩方法，对测试输入进行解......
本文针对三维芯片测试,首先提出了一种扫描结构,这种结构考虑了硅通孔（through silicon vias）互连的代价,在有效的降低测试时间的同......
利用图像经过小波变换后系数的分布特点,能够有效地进行图像编码。为了充分利用小波系数的带内相关性和带间相关性,提出了一种有效......
在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值可以显著地减少测试应用时间,但会使测试需要的引脚数和测试响应数据量增......
针对基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法在生成相容类时存在的问题，对其进行3个方面的改进：选取包含X的扫描单元，选取度更小的......
随着三维集成电路(Three-Dimensional Integrated Circuits,3D-ICs)的不断发展,测试在集成电路的实现过程中是必不可少的环节。基......
电子系统广泛应用于生活的各个角落,而电子系统的关键部件是集成电路(IC)。近几十年来,随着超大规模集成(VLSI)技术的迅猛发展,芯......
全扫描测试是一种最有效和流行的可测性设计技术。它广泛地应用在超大规模集成(VLSI)电路和片上系统(SOC)中。全扫描测试技术通过......
如今,数字系统已经广泛应用于生活中的各个角落。而对于各种数字系统,集成电路是其中最关键的部分。近几十年来,随着超大规模集成......
随着芯片设计向深亚微米工艺的推进，数字IC的设计技术水平越来越高，特征尺寸越来越小，集成密度越来越大。IC制造能力的不断攀升对IC测......
