【摘 要】
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本文从航天电子系统贮存的实际情况出发,客观地分析了故障率对航天电子系统技术性能的影响,论证了以贮存可靠性为中心的贮存寿命研究的优越性和可行性,为航天电子产品贮存寿命的研究提供必要的方法和手段.
【出 处】
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中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会
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本文从航天电子系统贮存的实际情况出发,客观地分析了故障率对航天电子系统技术性能的影响,论证了以贮存可靠性为中心的贮存寿命研究的优越性和可行性,为航天电子产品贮存寿命的研究提供必要的方法和手段.
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