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在LED芯片分选与检测过程中，需要对LED 晶圆进行扫描获取多张图像，获得每一颗芯片的实际位置。目前各类LED 芯片分选与检测设备的取像方式为走停方式(Stop-and-Go)，由于反复的加减速过程，使得机械磨损加快，并且增加了扫描时间。本文提出了一种基于图像拼接的连续取像方式(Read-on-the-fly)，在匀速运行过程中连续拍照，并使用图像拼接算法将所取图像进行拼接，而后对整副图像进行图像匹配，获取芯片位置，完成整个扫描过程。通过实验证明，基于图像拼接的连续运动取像方式能够提升扫描效率。