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本文用真空沉积的方法制备了三种不同形态的酞菁铜薄膜并用摆动曲线方法对其结晶性进行了表征.之后又制备并表征了基于这三种薄膜的有机薄膜晶体管器件.实验结果表明,沉积在100℃基底上的酞菁铜薄膜有最窄的摆动曲线,对应的器件有最高的载流子迁移率.这些说明摆动曲线半峰宽一个可以用来衡量载流子迁移率的参数.