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SiO2-PVA杂化体系的电子密度波动及微结构
SiO2-PVA杂化体系的电子密度波动及微结构
来源 :第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sysbot
【摘 要】
:
本文对SiO2-PVA杂化凝胶的SAXS研究中,提出了一种基于Ruland基本理论的数据处理方法,由此可以定量地得到电子密度波动的维数和幅度.
【作 者】
:
徐耀
范文浩
吴东
孙予罕
【机 构】
:
中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,山西,太原,030001
【出 处】
:
第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会
【发表日期】
:
2006年10期
【关键词】
:
SiO2-PVA杂化体系
晶体结构
电子密度波动
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本文对SiO2-PVA杂化凝胶的SAXS研究中,提出了一种基于Ruland基本理论的数据处理方法,由此可以定量地得到电子密度波动的维数和幅度.
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译文
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