SiO2-PVA杂化体系的电子密度波动及微结构

来源 :第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sysbot
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本文对SiO2-PVA杂化凝胶的SAXS研究中,提出了一种基于Ruland基本理论的数据处理方法,由此可以定量地得到电子密度波动的维数和幅度.
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