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本文回顾了研究分析中心近几年对使用中失效的元器件的分析结果，对失效模式作了粗略的统计，在半导体和微电子器件中EOS/ESD导致的失效占总失效数的四成多，是影响器件应用可靠性的最重要因素。正确选择器件、针对性的检验和适当的使用设计与防护技术，是降低EOS/ESD失效的重要措施。此外，在电子行业中，加工工艺粗糙仍然制约着国内产品的质量。