一种基于异常控制流的程序错误行为分析方法

来源 :第八届全国测试学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liunan0083
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
程序的异常处理机制是提高软件可靠性与软件容错的常用重要手段之一,该机制可以将程序从错误状态恢复到正常状态,避免软件失效的发生或以安全的方式退出程序。当程序发生错误且该错误被异常处理机制侦测时,程序控制流会跳转到异常控制流中进行相关异常的处理.异常控制流的发生表明了程序正处于错误状态之中,即程序存在差错.但目前相关研究并没有从异常控制流的角度对程序的错误行为进行描述与分析.针对以上问题,本文提出了一种基于异常控制流的程序错误行为分析方法,以源代码静态分析的方式对程序中throw/raise语句引起的显式异常控制流进行分析,并基于函数级异常控制流提出了用于描述程序中与异常控制流相关的错误行为模型.同时,本文描述了函数级异常控制流的生成以及与异常控制流相关的错误行为模型计算的相关算法,建立了自动化原型分析工具,对Openstack的核心组件进行了相关的错误行为分析.实验结果表明了从功能级别对程序进行基于异常控制流的错误行为分析的合理性和有效性,而该方法为当前具有较大规模的、具有异常处理机制的程序的错误行为自动化分析提供了可行性.
其他文献
三维多核SoC能够为构建高能效系统提供一种有力的解决方案.近年来,多核设计广泛采用电压/频率岛优化系统能耗.然而,不断增加的工艺偏差导致电压/频率岛的性能参数偏离其额定值.在较大偏差的影响下,可能无法满足任务的截止时间约束.另外,已有的研究工作大多针对二维平台,无法很好地解决因三维集成而不断恶化的发热问题.面向采用电压/频率岛设计的三维多核SoC,本文提出一个硅后优化框架,最小化系统能耗的同时,满
软件的高复杂性是其可靠性难以精确评估的主要原因,传统模型在不同环境下、不同类型的软件系统的预测能力差别极大,使得软件可靠性模型选择极其困难.基于核函数的软件可靠性模型具有动态适应性,得到很多研究者关注,是目前软件可靠性预测研究领域重要发展方向之一.使用相关向量机对软件失效时间数据与发生在其之前的m次失效时间数据之间的关系进行建模,从而捕捉失效时间内在的依赖关系.在10个不同类型失效数据集上,采用M
针对云计算系统IaaS(Infrastructure as a Service)层虚拟机与物理节点映射过程数据中心可靠性问题,本文提出一种多目标优化虚拟机容错分配方法.该方法首先在IaaS层建立虚拟机容错管理结构,设计虚拟机容错分配流程.然后针对影响虚拟机容错分配的多个因素,建立多目标优化虚拟机容错分配模型,该模型综合考虑了服务级合约违背率、资源利用、电源消耗和容错成本四个因素的多目标优化.最后针
如今,人们对软件的依赖程度越来越大,需求也越来越高,而软件缺陷导致的事故频发.现有技术发现软件缺陷的方法有限,软件质量的现状不容乐观.如何定位软件缺陷,发现软件缺陷之间的亲缘关系和产生的原因,以及如何直观显示被发现的软件缺陷,特别是大数据测试结果的直观图形显示,一直是该领域十分关心的科学问题.本文构建和设计了一个软件缺陷谱系分类可视化模型,包括软件缺陷谱系关系的分析方法,三种谱系分类绘图法(直线绘
本文主要工作集中于基于TTCN-3的协议一致性测试方法研究,介绍了TTCN-3核心语言.以DNS协议为例,在对DNS协议进行分析的基础上,结合TTCN-3测试系统的体系结构和一致性测试过程,提出了一种通过执行TTCN-3抽象测试套来验证协议实现正确性的方法.论文主要是根据TTCN-3核心语言的相关规范与DNS协议的工作方式,设计了测试DNS协议的TTCN-3抽象测试套;根据TTCN-3控制接口规范
本文介绍功率器件加速老化及故障预测实验平台的搭建方案.分析了进行功率循环、热循环、负载变化等功率器件加速老化实验所需的实验条件和要求.介绍实验平台搭建的整体框架,软件、硬件部分的组成实现.该实验平台可以在线监测器件电压Vce(Vds)、Vg、电流Ice(Ids),封装温度等,并获得器件全生命周期的老化数据,支持功率器件状态监测和故障预测方法的在线验证.
Scan-based testing always consumes considerable power as the transitions due to the shifting of test data in scan chain can cause excessive nonsense work in the combinational part of the circuit.Scan
通用处理器是集成电路中功能最为复杂的设计之一,这对其功能验证提出了巨大的挑战.本文提出了一种基于指令模板的通用处理器约束随机指令生成方法,针对一款ARMv8处理器进行了模拟验证.此指令生成方法基于从指令集中提炼的指令模板,通过约束的调整即可支持各种功能场景的验证.基于结果自动比对的验证环境,对处理器进行了充分的验证,发现了58处设计错误,为处理器进入后续的FPGA硬件仿真奠定了良好的基础.
传统扫描链将所有扫描单元串联,测试数据的移位路径较长,导致测试移位功耗较大.首次提出代表扫描结构,它将传统扫描链或子链中的触发器改造成环形移位寄存器,为每个环形移位寄存器遴选一个代表触发器,并将这些代表触发器串联,构成具有若干局部循环的代表扫描结构.本文首次提出代表扫描结构,该结构仅选择部分代表触发器串联成代表扫描链作为测试数据的移位路径,大大减少了移位功耗,该结构的不仅具有较小的硬件代价,获得较
集成电路工艺水平的不断提高,使得组合逻辑电路对软错误的敏感性越发突出.为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的准确评估,提出一种精确的单粒子瞬态屏蔽效应评估方法.该方法考虑了扇出重汇聚的影响,考虑了门单元输入引脚到达输出端的上升与下降延迟,并克服了现有时窗屏蔽效应评估方法存在的不足.基于提出的单粒子瞬态屏蔽效应评估方法,提出一种基于向量传播的组合逻辑电路软错误率计算方法.通过将不同宽度的瞬态故障脉冲