【摘 要】
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本文对CMOS组合电路开路故障的测试进行了讨论.针对开路故障的特征,首先提出了一种采用跳变次数进行响应分析的BIST方法,在该方法中,激励源产生特定的测试序列施加给被测电路,通过对电路输出值的跳变次数进行计数,再与无故障电路输出的跳变次数的期望值进行比较,从而可以检测到电路中是否存在开路故障,对于有n输入端的电路完成测试需要6×2个测试矢量.文中进一步提出了一种基于MISR(多输入移位寄存器)的响
【机 构】
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复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室(上海)
【出 处】
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中国电子学会电路与系统学会第十八届年会
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本文对CMOS组合电路开路故障的测试进行了讨论.针对开路故障的特征,首先提出了一种采用跳变次数进行响应分析的BIST方法,在该方法中,激励源产生特定的测试序列施加给被测电路,通过对电路输出值的跳变次数进行计数,再与无故障电路输出的跳变次数的期望值进行比较,从而可以检测到电路中是否存在开路故障,对于有n输入端的电路完成测试需要6×2个测试矢量.文中进一步提出了一种基于MISR(多输入移位寄存器)的响应分析的内建自测试方法,在对多开路故障进行测试的同时考虑到对固定型故障模型的测试.在该方法中可以用4×2个测试矢量同时完成对多开路故障和多固定型故障的有效测试 .
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