【摘 要】
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本文研究了相控阵探头激发孔径选择、角度偏转范围设定、聚焦深度设置、对比试块选取等因素对相控阵加装楔块S扫描检测结果的影响。结果表明，随着检测深度的增加，角度偏转范围降低，检测中的实际偏转角度应根据试验确定，为提高检测结果分辨力，应尽量对相控阵探头晶片全激发，且聚焦深度选取应根据工件中近场区的计算确定。
【机 构】
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本文研究了相控阵探头激发孔径选择、角度偏转范围设定、聚焦深度设置、对比试块选取等因素对相控阵加装楔块S扫描检测结果的影响。结果表明，随着检测深度的增加，角度偏转范围降低，检测中的实际偏转角度应根据试验确定，为提高检测结果分辨力，应尽量对相控阵探头晶片全激发，且聚焦深度选取应根据工件中近场区的计算确定。
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