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介绍了主要用于测量衍射谱底片参数的装置。该装置对测量一般电子衍射谱底片完全能够满足要求。对于质量较好的底片，测量精度可比传统测法提高10倍以上。文中给出了该装置的工作原理，并介绍了研制过程中出现的电路。（本刊录）
电子衍射谱底片测量装置的研制
【摘 要】
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介绍了主要用于测量衍射谱底片参数的装置。该装置对测量一般电子衍射谱底片完全能够满足要求。对于质量较好的底片，测量精度可比传统测法提高10倍以上。文中给出了该装置的工
【机 构】
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东北工学院
【出 处】
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中国金属学会仪器仪表与控制学术会议
【发表日期】
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1986年期
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