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该文通过总结单片机、ＦＰＧＡ在″ＴＸ５２１０误码测试仪″中的应用，试图描述高速发展的半导体技术正迅速导至智能仪表设备的集成电路化，从而大幅度提高设备整机的可靠性及降低设备的体积、功耗和成本。
单片机及FPGA技术在智能测试仪表中的应用
【摘 要】
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该文通过总结单片机、ＦＰＧＡ在″ＴＸ５２１０误码测试仪″中的应用，试图描述高速发展的半导体技术正迅速导至智能仪表设备的集成电路化，从而大幅度提高设备整机的可靠性及降低设备的体积、功耗和
【机 构】
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谋部第六十三研究所
【出 处】
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1996年全国单片微机学术交流会暨多国单片微机展示会
【发表日期】
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1996年期
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