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随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来越小,电路的复杂度也越来越高,传统的测试方法已经不能很好的适应这种发展趋势。在这种背景下,边界扫描理论被提出,并在1990年形成了第一套边界扫描标准IEEE 1149.1。在国外,许多测试设备提供商开发了基于边界扫描标准的测试系统,包括测试控制器和上位机软件;在国内,对该标准的研究和应用还处在初级阶段。在进行测试时,上位机软件是最重要的,测试矢量的生成、测试响应的分析等都是在上位机软件中实现。本文的主要研究工作就是对上位机软件进行设计和实现。本文开发的上位机软件是在VS2010平台上基于MFC框架开发,并进行了以下几个方面的分析、设计与实现。首先对边界扫描原理进行了研究,如TAP端口、TAP控制器、指令寄存器和数据寄存器等。在对原理有一定的了解后,分析了三种边界扫描测试电路扩展方式和边界扫描测试的流程。同时也对网表文件和BSDL文件的格式进行了分析,为之后对这两种文件进行读取做好准备。接着对边界扫描测试系统的总体设计进行了分析,同时对上位机软件的需求进行了分析。需求分析是软件开发的重要环节,能对之后的软件具体开发工作起到事半功倍的作用。然后就是对上位机软件的具体设计和实现部分。本文把上位机软件主要分为4个模块:测试文件处理模块、测试矢量生成模块、USB通信模块和项目管理与界面设计模块。测试文件处理模块分为BSDL文件处理和网表文件处理,分别实现了对BSDL文件的通用性解析和对多种EDA软件导出网表文件的解析;测试矢量生成模块实现了对ID码指令、采样指令和外测试指令的测试矢量生成;USB通信模块利用Cypress(赛普拉斯)公司提供的CyAPI实现了USB通信类的编写,实现了与测试控制器的通信;项目管理与界面设计模块实现了工程文件的可移植性和友好的操作界面。最后通过对上位机软件、测试控制器和被测电路板进行联合调试,调试结果表明本文开发的上位机软件能够实现预期的需求,即ID码测试、动态显示管脚状态和设置管脚状态等功能。