论文部分内容阅读
(1)用拉曼光谱研究MnSi_x和FeSi_x薄膜微结构我们用拉曼光谱研究了不同退火温度下MnSi_x和FeSi_x薄膜微结构,首次确定了锰硅化合物的两个相,MnSi_(1.73)相和MnSi相的拉曼光谱。每一个锰硅化合物的相在300 cm~(-1)附近有一套3个峰的拉曼光谱,它们能够被用来作为确定锰硅化合物形成的指纹。相比较传统XRD方法,拉曼光谱对于研究锰硅化合物的微结构更为灵敏,特别是在锰硅化合物形成初期。我们在外延生长制备Fe掺杂Si薄膜时,通过拉曼光谱发现,可以通过