本文的研究目的是实现平板裂缝天线相关参数的测量,从而为天线的进一步分析提供参考。针对平板裂缝天线的结构特点,对其采用非接触式的测量。首先,以平板裂缝天线的扫描图像为基础,对天线的裂缝参数进行了测量。通过对裂缝图像进行去噪、边缘检测、二值化等预处理将边缘定位到单像素,然后在确定的边缘点使用了三种亚像素细分算法,实现了对裂缝参数的高精度测量。其次,对波导的各种参数进行了测量。针对波导图像噪声的特点,在进行预处理之后,提出了使用经验模板进行二次去噪的方法,实现了边缘粗定位,进而通过亚像素细分获得了较好的测量效果。最后,对测量误差进行分析,并介绍软件原型。通过对测量结果的误差和精度分析,验证了本文测量方法的合理性与可行性。本文通过图像处理技术实现了对平板裂缝天线的非接触式测量,并通过亚像素细分算法提高了测量精度,具有一定的理论价值和实际意义。